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X-ray无损检测在半导体封测领域的应用

编辑: 『威尼斯集团』发表时间:2021-08-07 09:00:00浏览量:719

x-ray无损检测技术在半导体封测领域已经做到100%在线检测,成为了验证产品质量的必须手段。在半导体芯片新技术的迭代更新下,x-ray检测技术也朝着高精度、智能化方向发展,紧跟半导体封测的新趋势新要求。
文本标签:x-ray,无损检测

x-ray是一种发展成熟的无损检测方式,目前广泛应用在物料检测(IQC)、失效分析(FA)、质量控制(QC)、质量保证及可靠性(QA/REL)、研发(R&D)等领域。可用于检测电子元器件、LED、金属基板的分层、裂纹等缺陷(裂纹、分层、空洞等),通过检测图像对比度判别材料内部是否存在缺陷,确定缺陷形状和尺寸、确定缺陷方位。

 x-ray

半导体封装是指把构成具有一定功能的电路所需的半导体、电阻、电容等元件及它们之间的连接导线全部集成在一小块硅片上,然后焊接封装在一个管壳内,其封装外壳有圆壳式、扁平式或双列直插式等多种形式。

 

芯片领域有一个著名的摩尔定律。其大致内容为:当价格不变时,集成电路上可容纳的元器件的数目,约每隔18-24个月便会增加一倍,性能也将提升40%多年来,芯片制造工艺水平的演进不断验证着这一定律,持续推进的速度不断带动信息技术的飞速发展。而半导体封测领域的发展与整个半导体产业的发展息息相关。

 

芯片生产上市之前会进行一系列精准、复杂的有效性验证过程,x-ray主要是检测半导体芯片上的各个焊点是否有效,由于芯片体积设计的越来越小,所以需要x-ray检测装备拥有高放大倍率和分辨率,检测精度要求很高,才能不遗漏重要的焊点缺陷。

 

在半导体封装测试过程中,样片验证的速度越快,越有可能保障其产品快速面市。产品质量和良率验证充分后的大规模量产外包到大型封装厂,无缝对接大规模量产,能够不让芯片企业操心封装环节,从而加速芯片设计企业的发展。

 

x-ray无损检测技术在半导体封测领域已经做到100%在线检测,成为了验证产品质量的必须手段。在半导体芯片新技术的迭代更新下,x-ray检测技术也朝着高精度、智能化方向发展,紧跟半导体封测的新趋势新要求。

 

芯片设计企业与半导体封测工厂的无缝对接量产、提供弹性产能的商业模式促生了封测领域一种新模式的成长。x-ray无损检测技术作为半导体封测产业链中的一环,还在不断加紧技术升级,以能够满足半导体芯片的检测需求


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2021-08-07 719人浏览
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